探針式輪廓儀Dektak XTL
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臺階儀-表面輪廓儀DEKTAK XT
德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量.....
光學輪廓儀ContourGT-X
ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。
3D掃描儀 MICRON3D green
MICRON3D掃描機的開發和完善花費了兩年多的時間，讓我們能夠充分研究這種3D掃描儀的每.....
反射膜厚儀
反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。
反射膜厚儀
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
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